ศูนย์ข้อมูลการวิจัย Digital "วช."

การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ

ชื่อเรื่อง :

ปี :

2547

หมวด :

วิทยานิพนธ์

ผู้แต่ง :

ธิษณา เพียรเลิศ

ผู้แต่งร่วม :

รหัสดีโอไอ :

10.14457/CU.the.2004.306

ธิษณา เพียรเลิศ. 2547. การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ. สาขาวิชาวิทยาศาสตร์คอมพิวเตอร์, จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย; DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/CU.the.2004.306

ธิษณา เพียรเลิศ. (2547) การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ . จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย/กรุงเทพฯ. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/CU.the.2004.306

ธิษณา เพียรเลิศ. การตรวจจับร่องรอยที่ไม่ดีสำหรับรีแฟคทอริง โดยใช้มาตรวัดซอฟต์แวร์เชิงวัตถุ. . กรุงเทพฯ:จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2547. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/CU.the.2004.306

เอกสารดาวน์โหลด

Abstract :

Download (PDF)

จำนวนดาวน์โหลด

Abstract :

Full-Text :

Digital File :

จำนวนดาวน์โหลดเพื่อใช้ประโยชน์

นโยบาย :

วิชาการ :

สังคม/ชุมชน :

พาณิชย์/อุตสาหกรรม :

สำนักงานการวิจัยแห่งชาติ (วช.)	National Research Council of Thailand (NRCT)
196 ถนนพหลโยธิน เขตจตุจักร กรุงเทพฯ 10900	196 Paholyotin rd., Chatuchak, Bangkok 10900
โทร. 02-561-2445 ต่อ 711, 712 \| [email protected]	Tel.02-561-2445 ext. 712, 714 \| [email protected]