High performance GA-based for sequential circuit test generation on PC-cluster
High performance GA-based for sequential circuit test generation on PC-cluster
ชื่อเรื่อง :
High performance GA-based for sequential circuit test generation on PC-cluster
ปี :
2001
หมวด :
วิทยานิพนธ์
ผู้แต่ง :
Tepakorn Siriwan
ผู้แต่งร่วม :
-

Tepakorn Siriwan. 2001. High performance GA-based for sequential circuit test generation on PC-cluster. Department of Computer Engineering, Kasetsart University;

Tepakorn Siriwan. (2001) High performance GA-based for sequential circuit test generation on PC-cluster . Kasetsart University/Bangkok.

Tepakorn Siriwan. High performance GA-based for sequential circuit test generation on PC-cluster. . Bangkok:Kasetsart University, 2001.

Tepakorn Siriwan. (2001) High performance GA-based for sequential circuit test generation on PC-cluster . Kasetsart University/Bangkok.

เอกสารดาวน์โหลด
- ไม่พบเอกสารดิจิตอล -
จำนวนดาวน์โหลด
Abstract :
 0
Full-Text :
 0
Digital File :
 0
จำนวนดาวน์โหลดเพื่อใช้ประโยชน์
นโยบาย :
 0
วิชาการ :
 0
สังคม/ชุมชน :
 0
พาณิชย์/อุตสาหกรรม :
 0
Proportioning of raw mixing in cement plant using genetic algorithm
Channapa Jirupunswat
Multi-objective design and optimization of outdoor wireless LAN system
Eakkaluck Tangprasert
Diversity control in single-objective and multi-objective genetic algorithms
Theera Piroonratana

สำนักงานการวิจัยแห่งชาติ (วช.)

National Research Council of Thailand (NRCT)

196 ถนนพหลโยธิน เขตจตุจักร กรุงเทพฯ 10900

196 Paholyotin rd., Chatuchak, Bangkok 10900

โทร. 02-561-2445 ต่อ 711, 712  | dric@nrct.go.th

Tel.02-561-2445 ext. 712, 714 | dric@nrct.go.th

 

©2013 National Research Council of Thailand
ipv6 ready