Attribution
Non-Commercial
No Derivative Works
อนรรฆพล แสนทน. 2551. การตรวจสอบความสูงรอยนูน จากการบัดกรีในชิ้นส่วนฟลิบชิบ โดยใช้การประมวลผลภาพ. , มหาวิทยาลัยนเรศวร; DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/NU.the.2008.276
อนรรฆพล แสนทน. (2551) การตรวจสอบความสูงรอยนูน จากการบัดกรีในชิ้นส่วนฟลิบชิบ โดยใช้การประมวลผลภาพ . มหาวิทยาลัยนเรศวร/พิษณุโลก. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/NU.the.2008.276
อนรรฆพล แสนทน. การตรวจสอบความสูงรอยนูน จากการบัดกรีในชิ้นส่วนฟลิบชิบ โดยใช้การประมวลผลภาพ. . พิษณุโลก:มหาวิทยาลัยนเรศวร, 2551. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/NU.the.2008.276
อนรรฆพล แสนทน. (2551) การตรวจสอบความสูงรอยนูน จากการบัดกรีในชิ้นส่วนฟลิบชิบ โดยใช้การประมวลผลภาพ . มหาวิทยาลัยนเรศวร/พิษณุโลก. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/NU.the.2008.276
