ยรรยง เตชะวิจิตร์. 2550. การลดของเสียจากกระบวนการล้างฟิล์มป้องกันการชุบทองของแผงวงจรแบบอ่อน ด้วยเทคนิคการออกแบบการทดลอง. เชียงใหม่:มหาวิทยาลัยเชียงใหม่; DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/CMU.the.2007.225
ยรรยง เตชะวิจิตร์. (2550) การลดของเสียจากกระบวนการล้างฟิล์มป้องกันการชุบทองของแผงวงจรแบบอ่อน ด้วยเทคนิคการออกแบบการทดลอง. มหาวิทยาลัยเชียงใหม่:เชียงใหม่. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/CMU.the.2007.225
ยรรยง เตชะวิจิตร์. การลดของเสียจากกระบวนการล้างฟิล์มป้องกันการชุบทองของแผงวงจรแบบอ่อน ด้วยเทคนิคการออกแบบการทดลอง. เชียงใหม่:มหาวิทยาลัยเชียงใหม่, 2550. Print. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/CMU.the.2007.225
ยรรยง เตชะวิจิตร์. (2550) การลดของเสียจากกระบวนการล้างฟิล์มป้องกันการชุบทองของแผงวงจรแบบอ่อน ด้วยเทคนิคการออกแบบการทดลอง. มหาวิทยาลัยเชียงใหม่:เชียงใหม่. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/CMU.the.2007.225