Structural and tribological characterization of CrxN thin films prepared by reactive dc magnetron sputtering technique
Structural and tribological characterization of CrxN thin films prepared by reactive dc magnetron sputtering technique
ชื่อเรื่อง :
Structural and tribological characterization of CrxN thin films prepared by reactive dc magnetron sputtering technique
ปี :
2005
หมวด :
วิทยานิพนธ์
ผู้แต่ง :
Pattira Homhoul
ผู้แต่งร่วม :
-

Pattira Homhoul. 2005. Structural and tribological characterization of CrxN thin films prepared by reactive dc magnetron sputtering technique. Field of Study Physics, Chulalongkorn University;

Pattira Homhoul. (2005) Structural and tribological characterization of CrxN thin films prepared by reactive dc magnetron sputtering technique . Chulalongkorn University/Bangkok.

Pattira Homhoul. Structural and tribological characterization of CrxN thin films prepared by reactive dc magnetron sputtering technique. . Bangkok:Chulalongkorn University, 2005.

Pattira Homhoul. (2005) Structural and tribological characterization of CrxN thin films prepared by reactive dc magnetron sputtering technique . Chulalongkorn University/Bangkok.

เอกสารดาวน์โหลด
- ไม่พบเอกสารดิจิตอล -
จำนวนดาวน์โหลด
Abstract :
 0
Full-Text :
 0
Digital File :
 0
จำนวนดาวน์โหลดเพื่อใช้ประโยชน์
นโยบาย :
 0
วิชาการ :
 0
สังคม/ชุมชน :
 0
พาณิชย์/อุตสาหกรรม :
 0
Structures and properties of aluminum doped zinc oxide transparent conductive thin films prepared by sputtering technique
Thanaporn Tohsophon
Zinc oxide nanostructures for nano-device applications
Niyom Hongsith
Optical and structural properties of ZrO2 thin films prepared by DC reactive magnetron sputtering
Onanong Sukjai

สำนักงานการวิจัยแห่งชาติ (วช.)

National Research Council of Thailand (NRCT)

196 ถนนพหลโยธิน เขตจตุจักร กรุงเทพฯ 10900

196 Paholyotin rd., Chatuchak, Bangkok 10900

โทร. 02-561-2445 ต่อ 711, 712  | dric@nrct.go.th

Tel.02-561-2445 ext. 712, 714 | dric@nrct.go.th

 

©2013 National Research Council of Thailand
ipv6 ready