วิลาสินี ปีระจิตร. 2552. แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิสำหรับกระบวนการผลิตที่มีศูนย์มาก. คณะวิทยาศาสตร์ประยุกต์, มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ; DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/KMUTNB.the.2009.9
วิลาสินี ปีระจิตร. (2552) แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิสำหรับกระบวนการผลิตที่มีศูนย์มาก . มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ/กรุงเทพฯ. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/KMUTNB.the.2009.9
วิลาสินี ปีระจิตร. แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิสำหรับกระบวนการผลิตที่มีศูนย์มาก. . กรุงเทพฯ:มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ, 2552. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/KMUTNB.the.2009.9
วิลาสินี ปีระจิตร. (2552) แผนภูมิควบคุมรอยตำหนิสำหรับกระบวนการผลิตที่มีศูนย์มาก . มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ/กรุงเทพฯ. DOI : https://doi.nrct.go.th/ListDoi/listDetail?Resolve_DOI=10.14457/KMUTNB.the.2009.9