การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้า ในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์
การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้า ในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์
ชื่อเรื่อง :
การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้า ในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์
ปี :
2554
หมวด :
วิทยานิพนธ์
ผู้แต่ง :
ศักดิ์สิทธิ์ สุดใจ
ผู้แต่งร่วม :
มณฑลี ศาสนนันทน์,

ศักดิ์สิทธิ์ สุดใจ. 2554. การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้า ในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์. สาขาวิชาการพัฒนางานอุตสาหกรรม, คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์;

ศักดิ์สิทธิ์ สุดใจ. (2554) การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้า ในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์ . คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์/กรุงเทพฯ.

ศักดิ์สิทธิ์ สุดใจ. การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้า ในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์. . กรุงเทพฯ:คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์, 2554.

ศักดิ์สิทธิ์ สุดใจ. (2554) การศึกษาการลดปัญหาการเกิดของเสียซึ่งเกิดจากการคัดแยกงานเกินความจำเป็น ของกระบวนการตรวจสอบค่าทางไฟฟ้า ในกระบวนการผลิตชิปแทนทาลัมคาปาซิเตอร์ . คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์/กรุงเทพฯ.

เอกสารดาวน์โหลด
- ไม่พบเอกสารดิจิตอล -
จำนวนดาวน์โหลด
Abstract :
 0
Full-Text :
 0
Digital File :
 0
จำนวนดาวน์โหลดเพื่อใช้ประโยชน์
นโยบาย :
 0
วิชาการ :
 0
สังคม/ชุมชน :
 0
พาณิชย์/อุตสาหกรรม :
 0